支柱瓷绝缘子及瓷套超声波检测工艺方法研究

在研制超声波系列探头和与瓷声速相近试块的基础上完成的工艺方法,其中爬波探头可以在距缺陷50mm时检测出深度准1mm当量缺陷,小角度纵波斜探头可以发现支柱瓷绝缘子内部≤准1mm当量缺陷,双晶横波探头则可以发现瓷套内部和内壁≤准1mm当量缺陷。这意味着根据检测部位和指示长度分析,支柱瓷绝缘子及瓷套超声探伤可以做到定位、定性和定量。