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怎样进行LED芯片寿命试验

HOW TO DO LIFE TEST FOR LEO CHIPS

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摘要介绍了LED芯片寿命试验过程；提出了寿命试验条件，完善的试验方案，消除可能影响寿命试验结果准确性的因素，保证了寿命试验结果的客观性和准确性。采用科学的试验线路和连接方式，使寿命试验台不但操作简便、安全。而且试验容量大。

出处《中国照明》 2009年第12期94-96,共3页 China Illuminrtion

关键词寿命试验台 LED 芯片试验过程试验方案可能影响连接方式试验线路

分类号 U467.523 [机械工程—车辆工程] TN312.8 [电子电信—物理电子学]

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中国照明

2009年第12期

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