摘要
2009年11月30日,北京自动测试技术研究所与中国科学院微电子研究所共同成立的“北京集成电路测试技术联合实验室”启动仪式在北京自动测试技术研究所的泰思特大厦隆重举行。北京集成电路联合实验室的启动,将为我国集成电路测试技术研发进一步增加助推力。中国科学院北京分院党组副书记杨建国、北京科学技术研究院院长丁辉、中国科学院微电子所党委书记李培金等领导,以及来自国内微电子领域的多位专家出席了启动仪式。北京自动测试技术研究所所长张东研究员和中国科学院微电子研究所微电子设备技术研究室主任夏洋研究员共同担任联合实验室主任。
出处
《电子测试》
2009年第12期87-88,共2页
Electronic Test