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X射线荧光光谱法分析铝,硅质耐火材料

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摘要 采用X荧光光谱仪测定铝、硅质耐火材料、研究了系统制样方法、基体吸收-增强效应的校正、测定精度及制样精度,拓展了铝、硅质耐火材料的分析范围。
作者 阚斌 赵惠君
出处 《马钢科研》 1998年第3期32-37,共6页
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