摘要
本文论述了数字电路测试系统中的测试语言的设计以及逻辑功能仿真的实现。
This paper presents a test pattern language for the functional test system of Digital IC. The logic functional simulation and experimental results are illustrated.
出处
《计算机应用与软件》
CSCD
1998年第5期10-13,共4页
Computer Applications and Software
关键词
测试图形
逻辑仿真
数字集成电路
测试语言
Test pattern,logic simulation,programming,language,digital integerated circuits.
