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缺陷晶体电子衍射波振幅的校正
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摘要
在运动学近似下,通过解卷处理,可以从单张高分辨电子显微像(以下简称高分辨像)获得晶体的结构像。李方华和何万中等人曾用此技术处理了场发射电子显微镜拍摄的高分辨像,处理后的像分辨率达电子显微镜的信息分辨极限,得到了原子分辨率的晶体缺陷图像[1,2]。但由...
作者
王迪
何万中
蒋华
李方华
机构地区
中国科学院物理研究所和中国科学院凝聚态物理中心
出处
《电子显微学报》
CAS
CSCD
1998年第5期509-510,共2页
Journal of Chinese Electron Microscopy Society
关键词
晶体结构
晶体缺陷
电子衍射波
振幅校正
分类号
O766.4 [理学—晶体学]
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5
Hu J J,Ultramicroscopy,1991年,35卷,339页
6
Han F S,Acta Cryst A,1986年,42卷,253页
7
郭可信,高分辨电子显微学.在固体科学中的应用,1986年
8
李方华,Acta Cryst A,1985年,41卷,376页
共引文献
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电子显微学报
1998年 第5期
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