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SNOM的光纤探针制备及扫描电镜观察被引量：1

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摘要扫描近场光学显微镜（ＳＮＯＭ）是一种新型超高分辨率光学显微镜。它既具有光学显微镜可在自然状态下观察样品，获得物体的光学信息，且对样品无任何损伤的优点，又由于采用了近场光学探测原理及技术，使得分辨率不受衍射极限的限制，从而实现光学显微镜的超高分辨率。目...

作者戴宏周庆宗容陈尔纲

机构地区云南大学物理系

出处《电子显微学报》 CAS CSCD 1998年第5期676-677,共2页 Journal of Chinese Electron Microscopy Society

基金云南省自然科学基金

关键词光纤探针电镜观察扫描式近场光学显微镜

分类号 TH742 [机械工程—光学工程]

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参考文献1

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电子显微学报

1998年第5期

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