X射线Fourier多峰解析法测定晶粒大小分布及微观应力的研究

Studies on Particle Size Distribution and Microstrain by Fourier Analysis of X-ray Diffraction Multiple Orders Profile

1 实验部分 1.1 原理设X射线衍射峰的纯加宽(包括晶粒度和微观应力引起的加宽)峰形为f(y),仪器峰形为g(z),样品峰形为h(x),有: A_n=F_R(n)=[H_R(n)·G_R(n)+H_I(n)·G_I(n)]/(G_R^2+G_I^2) B_n=F_I(n)=[H_I(n)·G_R(n)-H_R(n)·G_I(n)]/(G_R^2+G_I^2) 式中N为衍射峰形的最大底宽,n为谐波指数,j=±1,±2,…±N/2,H_R,H_I,G_R和G_I分别为样品峰形函数和仪器峰形函数的Fourier系数,A_n,B_n是纯加宽峰形的Fourier系数。