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北京集成电路测试技术联合实验室启动
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摘要
由中国科学院微电子研究所与北京自动测试技术研究所联合成立的“北京集成电路测试技术联合实验室”今天在京启动。
出处
《科技与生活》
2009年第23期I0002-I0002,共1页
关键词
联合实验室
测试技术
集成电路
北京
中国科学院
研究所
微电子
分类号
TN407 [电子电信—微电子学与固体电子学]
F407.67 [经济管理—产业经济]
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科技与生活
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