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基于参考平面的通用结构光测量校正技术的新进展

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摘要 每个测量系统在投入使用前,都要经过校正。校正技术的好坏,校正参数的准确性,对最终的测量精度起决定性的影响作用。
出处 《光学与光电技术》 2010年第1期58-58,共1页 Optics & Optoelectronic Technology
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