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基于参考平面的通用结构光测量校正技术的新进展
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摘要
每个测量系统在投入使用前,都要经过校正。校正技术的好坏,校正参数的准确性,对最终的测量精度起决定性的影响作用。
出处
《光学与光电技术》
2010年第1期58-58,共1页
Optics & Optoelectronic Technology
关键词
校正技术
结构光测量
参考平面
通用
测量系统
校正参数
测量精度
决定性
分类号
TP391.41 [自动化与计算机技术—计算机应用技术]
TN957.51 [电子电信—信号与信息处理]
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光学与光电技术
2010年 第1期
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