期刊文献+

中科泛华推出智能角位移传感器测试系统

下载PDF
导出
摘要 日前,北京中科泛华测控技术有限公司研发设计了传感器测试系列的又一新品——智能角位移传感器测试系统。该系统主要用于对磁电式弧形或圆形传感器的标定和功能测试,
出处 《电子质量》 2010年第2期24-24,共1页 Electronics Quality
  • 相关文献

相关作者

内容加载中请稍等...

相关机构

内容加载中请稍等...

相关主题

内容加载中请稍等...

浏览历史

内容加载中请稍等...
;
使用帮助 返回顶部