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单片机技术在时间继电器测试中的应用 被引量:3

Application of SCM Technology in Time Relay Test
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摘要 介绍了时间继电器延时参数的测试,并对单片机测试框图及其软件流程进行了相应介绍。此外,对检测的外围线路以及在检测过程中的电磁兼容EMC问题进行了相关介绍和说明。 Time-delay parameter test of time relay, SCM test block diagram and software flowchart were introduced. In addition, test periphery circuit and electromagnetic compatibility (EMC) problems during test progress were explained.
出处 《低压电器》 北大核心 2010年第2期53-56,共4页 Low Voltage Apparatus
关键词 时间继电器 延时参数 测试 单片机 电磁兼容 time relay time-delay parameter test single chip microcompnter ( SCM ) electromagnetic compatibility(EMC)
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引证文献3

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