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美国优特-UTX 850B X射线荧光光谱仪

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摘要 UTX850B系列一配备最为先进的高分辨率电致冷Si—PIN探测器,可以测试欧盟RoHS指令所要求的有害物质Pb,Cd,Hg以及总Br,总Cr等元素的测定。
出处 《表面工程资讯》 2010年第1期59-59,共1页 Information of Surface Engineering
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