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美国优特-UTX 850B X射线荧光光谱仪
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摘要
UTX850B系列一配备最为先进的高分辨率电致冷Si—PIN探测器,可以测试欧盟RoHS指令所要求的有害物质Pb,Cd,Hg以及总Br,总Cr等元素的测定。
出处
《表面工程资讯》
2010年第1期59-59,共1页
Information of Surface Engineering
关键词
X射线荧光光谱仪
PIN探测器
ROHS指令
高分辨率
有害物质
电致冷
SI
分类号
TN722 [电子电信—电路与系统]
TH744.16 [机械工程—光学工程]
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