摘要
对2×2、4×4、6×6、8×8面阵列凸点分布形式的倒装芯片分别进行了建模和模拟,分析了面阵列倒装芯片在常规温度载荷下芯片表面应力分布和变形的一般规律,并分析比较了凸点分布形式、基板类型对面阵列倒装芯片表面应力分布的影响,在此基础上估算了应力和变形对典型MEMS器件的影响。对于常规4×4面阵列情况,倒装焊后的悬臂梁吸合电压的最大相对变化率为5%,而固支梁一阶固有谐振频率最大相对变化率为110%。
Flip chip packages with area array patterns of 2×2,4×4,6×6,8×8 bumps were investigated using finite element method.The stress distribution and warpage of the flip chip were simulated with respect to different bump patterns.The stress and warpage can lead to a maximum relative change of 5% in the pull-in voltage of a microcantilever and 110% in the first natural frequency of a microbridge after flip chip packaging.
出处
《中国机械工程》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2010年第4期446-451,共6页
China Mechanical Engineering
基金
武器装备预先研究资助项目
国家863高技术研究发展计划资助项目(2007AA04Z320)
关键词
倒装芯片
凸点分布
有限元方法
吸合电压
谐振频率
flip chip
bumps-layout
finite element method（FEM）
pull-in voltage
resonant frequency
