摘要
文章介绍近年来倍受关注的低能量/光电子显微镜(LEEM/PEEM)的基本原理和应用.LEEM/PEEM拥有成像、光电子能谱和衍射功能,可对样品进行综合全面的分析.通过一系列的应用实例,特别是和同步辐射软X射线结合的成果,展示该实验手段在表面科学和纳米技术方面的应用.
The rapidly developing field of low energy and photoemission electron microscopy（LEEM/PEEEM） is reviewed.This technology combines microscopy,spectroscopy and diffraction in one system,which allows a comprehensive characterization of the specimen under study.The combination of LEEM/PEEM and soft X-rays in a synchrotron radiation facility is especially powerful for studies in surface science and nano-technology.
出处
《物理》
CAS
北大核心
2010年第3期211-218,共8页
Physics
关键词
低能量电子显微镜
光电子显微镜
同步辐射
电子衍射
磁畴
量子点
low energy electron microscope（LEEM） photoemission electron microscope（PEEM） synchrotron radiation electron diffraction magnetic domain quantum dot
