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T2000面向不同测试需求的灵活对应
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摘要
随着半导体集成电路产业的迅猛发展,IC的集成度越来越高,这就使得IC的功能越来越复杂。因此对于半导体集成电路测试设备在灵活配置性、可升级性以及低成本性方面的要求也越来越高。Advantest的T2000作为新一代的半导体测试系统,针对不同的测试需求均有灵活的对应方式。
作者
张可
王春宇
机构地区
爱德万测试(苏州)有限公司
出处
《中国集成电路》
2010年第3期69-72,共4页
China lntegrated Circuit
关键词
T2000
灵活构架
Multi-SiteC控制
分类号
TN407 [电子电信—微电子学与固体电子学]
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中国集成电路
2010年 第3期
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