摘要
将导纳谱应用于半导体GeSi量子点的研究,观察到了典型直径为13nm的Ge量子点的库仑荷电效应及其分立能级结构.
Admittance spectroscopy is applied to study semiconductor GeSi quantum dots.We observed Coulomb charging effect and the discrete energy level structure of Ge quantum dots with the typical diameter 13nm.
出处
《物理》
CAS
1998年第11期643-645,共3页
Physics
基金
国家科学技术委员会攀登计划资助