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系统LSI中内核单元的测试

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摘要概述内核单元的测试设计及系统LSI的测试设计,利用现有的内核单元测试资源将是一种有效手段,关键在于内核单元测试接口的标准化。

作者林木

出处《电子测试》 1998年第11期27-28,13,共3页 Electronic Test

关键词系统LSI 大规模集成电路内核单元测试

分类号 TN470.7 [电子电信—微电子学与固体电子学]

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电子测试

1998年第11期

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