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降低系统LSI批量生产测试成本

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摘要对于内置DRAM的ASIC,可以采用总线隔离测试、BIST及扫描测试等方法;对于内置DRAM的微处理器,可以利用微处理器仿真执行存储器测试仪的硬件功能进行测试。

作者林沅

出处《电子测试》 1998年第11期29-31,共3页 Electronic Test

关键词 LSI 大规模集成电路测试成本

分类号 TN470.7 [电子电信—微电子学与固体电子学]

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电子测试

1998年第11期

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