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利用IEEE控制器测试IP
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摘要
IEEE 1149.1控制器业已标准化,适用于系统LSI中IP的测试,可以支持SCAN、BIST及TEST-BUS测试方法。
作者
宁宜
出处
《电子测试》
1998年第11期38-40,34,共4页
Electronic Test
关键词
IEEE控制器
测试
IP
LSI
集成电路
分类号
TN470.7 [电子电信—微电子学与固体电子学]
TM571.06 [电气工程—电器]
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