VLSI/ULSI可靠性的监测与模拟

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摘要论述了ＶＬＳＩ／ＵＬＳＩ可靠性的监测与模拟领域的技术背景、研究特点、技术进展与现代监测分析技术，并进而讨论了ＶＬＳＩ可靠性工程技术发展趋势。

作者杨谟华方朋

机构地区电子科技大学美AMD公司

出处《电子科技导报》 1998年第12期19-23,共5页

基金国家自然科学基金

关键词 VLSI/ULSI 可靠性监测模拟 BERT 寿命失效率

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电子科技导报

1998年第12期

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