如何实现在速故障点的测试

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摘要提出了一套采用片内PLL时钟，实现在速扫描测试电路故障的方法，包括设计思路，设计实现方法，电路的结构和测试向量的产生，以及仿真验证这个电路结构。

作者王君虎

机构地区上海交通大学微电子学院

出处《科技与生活》 2010年第3期92-92,共1页

关键词可测试性设计在速故障片内时钟OCC(On CHIP Clock) PLL

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科技与生活

2010年第3期

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