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泰克在富士康仪器设备展和研讨会上展示最新的高速串行测试解决方案

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摘要 泰克公司在2010年1月29日-30日举行的富士康仪器设备展和研讨会上展示了最新的高速串行测试解决方案。此次展览在富士康深圳工业园区举办,并同期开设了热门解决方案专题讲座。有将近一千位富士康的各级员工参加了这次活动。
出处 《国外电子测量技术》 2010年第3期88-89,共2页 Foreign Electronic Measurement Technology
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