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应用材料公司的22nm Cu阻挡层/籽晶层PVD技术

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摘要 应用材料公司称,他们有一新的Endura Cu BS RFX PVD(物理气相沉积)系统,可用于32nm和22nm逻辑和闪速存储器生产中的Cu阻挡层/籽晶层(Cu barrier/seed)沉积,每片成本低于与其竞争的工艺(比如CVD等)达40%。
出处 《现代材料动态》 2010年第3期10-10,共1页 Information of Advanced Materials
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