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应用材料公司的22nm Cu阻挡层/籽晶层PVD技术
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摘要
应用材料公司称,他们有一新的Endura Cu BS RFX PVD(物理气相沉积)系统,可用于32nm和22nm逻辑和闪速存储器生产中的Cu阻挡层/籽晶层(Cu barrier/seed)沉积,每片成本低于与其竞争的工艺(比如CVD等)达40%。
作者
邓志杰(摘译)
出处
《现代材料动态》
2010年第3期10-10,共1页
Information of Advanced Materials
关键词
应用材料公司
PVD技术
籽晶层
阻挡层
CU
物理气相沉积
BARRIER
闪速存储器
分类号
TN305 [电子电信—物理电子学]
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