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椭偏仪测厚法的数值计算
被引量:
6
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摘要
提供了一个实用的由椭偏参数求解薄膜厚度和折射率的计算程序.用复数乘、除法子程序解决复数的乘除运算,用差商代替解方程时需作的求导运算,大大简化了程序的编制工作.
作者
浦天舒
机构地区
中国纺织大学基础部
出处
《纺织高校基础科学学报》
CAS
1998年第4期381-384,共4页
Basic Sciences Journal of Textile Universities
关键词
薄膜
厚度
椭偏仪
测定
测厚法
分类号
O484.5 [理学—固体物理]
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纺织高校基础科学学报
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