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调制光反射(MPR)技术用于弱信号检测
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摘要
当一束周期性调制的泵浦光入射到被测样品表面上时,样品吸收光能,在样品内部形成热波,导致样品表面温度的周期 变化,使样品表面的光学反射率也发生周期性的变化。
作者
董绵豫
张淑仪
机构地区
浙江大学物理系
出处
《数据采集与处理》
CSCD
1998年第a10期132-134,共3页
Journal of Data Acquisition and Processing
关键词
GaP:N
半导体材料
调制光反射
弱信号检测
分类号
TN304.23 [电子电信—物理电子学]
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