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硅中硼的SIMS定量分析 被引量:6

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摘要 硅中硼的定量分析是二次离子质谱学中的一个典型基础研究课题。90年代中,国际标准化组织选定它作为SIMS领域要建立的第一项国际标准。参照近十余年来清华大学与国内外有关实验室合作开展的SIMS定量研究情况,本文介绍并评述了硅中硼SIMS定量分析的进展,讨论了相对灵敏度因子法、硅中硼参考物质、影响定量分析的因素、巡回测试结果及参考物质在标定SIMS仪器检测限的应用。在第一次国际标准化组织巡回测试中。
作者 秦超 刘容
出处 《真空科学与技术》 CSCD 北大核心 1998年第A12期181-187,共7页 Vacuum Science and Technology
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参考文献17

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共引文献2

同被引文献52

引证文献6

二级引证文献39

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