摘要
硅中硼的定量分析是二次离子质谱学中的一个典型基础研究课题。90年代中,国际标准化组织选定它作为SIMS领域要建立的第一项国际标准。参照近十余年来清华大学与国内外有关实验室合作开展的SIMS定量研究情况,本文介绍并评述了硅中硼SIMS定量分析的进展,讨论了相对灵敏度因子法、硅中硼参考物质、影响定量分析的因素、巡回测试结果及参考物质在标定SIMS仪器检测限的应用。在第一次国际标准化组织巡回测试中。
出处
《真空科学与技术》
CSCD
北大核心
1998年第A12期181-187,共7页
Vacuum Science and Technology