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ED-XRF法对镀金饰品的测定

etermination Of The Plated Gold By ED-XRF Method
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摘要 本文使用ED-XRF荧光能谱仪。利用金原子在X射线激发下所发射的L_β线和L_∞线的强度比值来识别样品是镀金的还是K金。同时,利用这个比值的大小来测定镀金层的厚度。可测镀金层厚度0~5μm。最大相对标准偏差15%。 The li fi intensity ratio method of ED-XRF is applied list inpxiish the plated gold from the karat gold and to nitirk; the thickness of the gold coating. The Interfere of Zn unrated.The ineasuring rang is between 0 . 5um.The RSD is
出处 《测试技术学报》 1998年第3期467-471,共5页 Journal of Test and Measurement Technology
关键词 镀金饰品 识别 镀层厚度测定 ED-XRF法 distinguish, plated gold, thickness
  • 相关文献

参考文献3

  • 1杨德辉,郑荣华,李叶农,黄近丹,张文芳,秦大方.黄金饰品中金含量的X-荧光能谱分析[J].分析测试学报,1995,14(5):1-9. 被引量:11
  • 2首饰覆盖层厚度的规定,中华人民共和国行业标准,QB1331-91.
  • 3金属覆盖层厚度测量.X射线光谱方法,中华人民共和国行业标准JB/T5068-91.

共引文献10

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