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2010年中国电子技术年会自动测试论坛

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摘要 2010年中国电子技术年会自动测试论坛于2010年4月9日至10日在深圳国际会展中心举行。LXI国际联盟主席VON CAMPBELL先生出席了会议,并做了题为:“LXI Consortium——2010 Report to the TestIndustry”和“AXLe:AdvaencedTCA Extensions forInstrumentation and Test”两篇报告,
出处 《国外电子测量技术》 2010年第4期93-93,共1页 Foreign Electronic Measurement Technology
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