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微波暗室有限测试距离对天线远场测量的影响 被引量:11

Influence of Limited Test Distance on Antenna Far Field Measurement in a Microwave Anechoic Chamber
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摘要 利用电磁场和误差分析理论,在阐述天线远场测量条件的基础上,分析了微波暗室有限测试距离对天线远场测量的影响,建立了误差模型,并结合实例说明了微波暗室有限测试距离对天线场强测量、增益测量的影响。分析结论可为实践中快速准确地确定适合在微波暗室内进行测量的天线尺寸和频率范围提供具体的技术指导。 According to the theory of electromagnetic field and the tbeory of error analysis, the far field condition for antenna test is discussed, the influence of limited test distance on antenna far field measurement in a microwave anechoic chamber is analysed, and the error model is established. An example is given to illustrate the influence of limited test distance on antenna electric field intensity and gain measurement in a microwave anechoic chamber. The conclusion can provide practical technical guidance for deciding quickly and accurately the size and frequency range of antennas suitable for being tested in a microwave anechoic chamber.
机构地区 解放军
出处 《电讯技术》 北大核心 2010年第5期104-107,共4页 Telecommunication Engineering
关键词 天线 远场测量 微波暗室 测试距离 误差模型 antenna far field measurement microwave anechoic chamber test distance error model
  • 相关文献

参考文献5

二级参考文献4

  • 1[4]董树义.微波测量技术[M].北京:北京理工大学出版社,1991.
  • 2[1]约翰·克劳斯.天线[M].北京:电子工业出版社,2005.
  • 3[3]阮馨远.天线测量技术[M].南京:电子工业部第十四研究所,1997.
  • 4沈国连.互耦影响下天线电参数的测量[J].航空电子技术,1997,28(2):13-17. 被引量:1

共引文献33

同被引文献33

引证文献11

二级引证文献17

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