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X射线衍射峰基本要素及其在相分析中的应用 被引量:4

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摘要 根据Bragg衍射方程、Scherrer公式、衍射强度计算原理,阐述了X射线衍射峰构成各要素的物理学意义.并根据这些要素的物理意义对其在实际样品分析中的应用进行探讨.
作者 张勇 沈慧娟
出处 《通化师范学院学报》 2010年第4期26-28,共3页 Journal of Tonghua Normal University
  • 相关文献

参考文献4

  • 1Wang H and Zhou J. Data Smoothing and Distortion of X2ray Diffraction Peak (I :Theory)[ J ]. Journal of Applied Crystallography ,2000,33.
  • 2Wang H and Zhou J. Data Smoothing and Distortion of X2ray Diffraction Peak (II :Application)[ J]. Journal of Applied Crystallography ,2000.
  • 3Scherrer P. Bestimmung der Gr sse und der inneren Struktur yon Kolloidteilchen mittels R ntgenstrahlen[ J]. G ttinger Nachr. Math. Phys, 1918, 2.
  • 4Wilson A J C. X2ray Optics [ M]. London: Methuen &Co. Ltd, 1963.

同被引文献21

引证文献4

二级引证文献9

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