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差动电路在杂光测试中的应用

APPRICATION OF DIFFERENTIAL CIRCUIT IN TESTING VEILING GLARE
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摘要 杂光是评价光学系统成象质量的重要指标之一 黑斑法是测试杂光的普遍采用的技术 本文提出一种用双光束平衡式差动电路测量杂光的方法 计算和测试证明了这种方法的测试精度高达 1 0 The veiling glare of an optical system is the major specification for opprasing its imaging quality.Black-spot method for testing the veiling glare is a currently comon-used technique.In the letter,the method is put forwerd that is the method of comparing the two beams from a same source of light,using a bridge diffrential circuit.It is proved that the testing precision is as high as 10 4 by the calculation and experiments.
作者 董占文
机构地区 四平师范学院
出处 《松辽学刊(自然科学版)》 1998年第4期34-36,共3页 Songliao Journal (Natural Science Edition)
关键词 杂光 黑斑法 差动电路 测试 光学系统 veiling glare black-spot mothod diffrential circuit
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参考文献2

二级参考文献1

  • 1刘瑞祥.杂光系数及其测量[J]光学机械,1977(05).

共引文献5

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