期刊文献+

基于紧缩系统的可靠性验证试验方法探讨 被引量:3

Discussion on Reliability Qualification Test Based on Condensed System
下载PDF
导出
摘要 针对大型的复杂系统难以开展实验室可靠性验证的实际现状,结合实例,介绍了一种基于紧缩系统的试验方法,同时分析了该方法面临的问题并给出了建议。 The reliability qualification test based on condensed system is introduced with an actual example to provide a solution to the difficult situation where a reliability qualification test is required for a large-scale complicated system in a laboratory.The issues occurred when applying this method and their solutions are discussed.
出处 《电子产品可靠性与环境试验》 2010年第2期36-38,共3页 Electronic Product Reliability and Environmental Testing
关键词 紧缩系统 可靠性 鉴定 condensed system reliability qualification
  • 相关文献

参考文献3

  • 1孙锦阳.机载大型电子设备可靠性验证试验方法探讨[J].军用标准化,2003(1):40-41. 被引量:1
  • 2丁定浩.大型整机可靠性鉴定试验在实验室试验条件下的分步试验方案.装备质量,2004,056(6):6-11.
  • 3李健 陆培永 许彦鑫.大型复杂电子系统实验室可靠性鉴定试验方法的探讨.军用标准化,2005,103(6):42-44.

同被引文献3

引证文献3

二级引证文献4

相关作者

内容加载中请稍等...

相关机构

内容加载中请稍等...

相关主题

内容加载中请稍等...

浏览历史

内容加载中请稍等...
;
使用帮助 返回顶部