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硅太阳电池组件工艺缺陷的红外检测技术 被引量：6

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摘要 介绍了一种利用半导体电致发光原理检测硅太阳电池组件工艺缺陷的设备,并简要分析了工艺缺陷的产生及检测原理。利用电致发光原理,能够检测出虚焊、断栅、碎片和隐裂四种较明显的工艺缺陷,具有广阔的应用前景。
作者 丁叶飞 李红波 张滢清 薛永胜 刘小宇 陈鸣波
机构地区 上海空间电源研究所 上海太阳能工程技术研究中心
出处 《太阳能》 2010年第2期36-37,55,共3页 Solar Energy
关键词 电致发光 太阳电池组件 工艺缺陷 死片 断栅 隐裂
分类号 TM914.41 [电气工程—电力电子与电力传动]
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参考文献5

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共引文献5

同被引文献20

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引证文献6

二级引证文献23

太阳能
2010年 第2期

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