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有关MIL-S-19500H的点滴研讨

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摘要 用严格数理统计方法分析表明,在MIL-S-19500H的B和C试验组的同一分组中,小批量比大批量之质量一致性检验(QCI)的批允许不合格品百分数(LTPD)大很多;另外有追加试验样品程序比无追加试验样品程序之辐射强度试验的批允许不合格品百分数(LTPD)也要大一些,由此提醒人们慎用小批量质量一致性检验及有追加试验样品程序的抽样检验方案。
作者 周仁
出处 《电子标准化与质量》 1999年第1期29-33,共5页 Electronic Standardization & Quality
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