摘要
在分析VLSI可测试性设计技术的发展情况和设计准则的基础上，讨论了研究与发展IEEE1149．1可测试性设计技术的重要意义，以及该技术在我国民用和军用工业应用的前景。
Based on analyzing development and design principles of VLSI testability design, the great significance of researching and developing IEEE 1149. 1 testability design,and its aPplication prospect in civil and ndliteq industry inour country are discussed.
出处
《测控技术》
CSCD
1999年第1期28-30,共3页
Measurement & Control Technology
关键词
可测试性设计
边界扫描测试
VLSI
超大规模
testability, testability design, boundary-scan test, IEEE 1149. 1 standard
