Noise XT展出高性能相位噪声产品

下载PDF

导出

摘要 Noise Extended Technologies S．A．S．日前在国际微波大会上展出其独有的双通道相位噪声测试系统（DCNTS），该系统是带有一个双解调制检波器设计的一款双通道相位和振幅噪声分析仪，可让测试系统采用交叉关联来实现其内部噪声消除。

出处《电子质量》 2010年第6期33-33,共1页 Electronics Quality

关键词相位噪声噪声测试系统 EXTENDED 产品性能噪声分析仪噪声消除双通道

1胡贵军,王燕,郭玉彬,李晓滨.半导体激光器噪声测试系统[J].长春邮电学院学报,2000,18(2):42-45.
2廖焕霖,汪健如,应根裕,杜秉初.电视机偏转线圈噪声分析仪的研制[J].真空电子技术,1999,12(6):38-41.
3张大彪.目标振幅噪声的形成和误差分析[J].无线电通信技术,2000,26(2):62-64.
4林有辰.数字式双解调器[J].杭州电子技术,1992(4):149-164.
5王志田,李成福.毫米波相位噪声测试系统[J].宇航计测技术,1993,12(3):1-13.
6刘忠英.8mm脉冲放大链相位噪声测试系统[J].宇航计测技术,1992,11(3):63-68.
7窦育强,张会芝,张爱丽.基于软件无线电的高速QPSK调制器的设计与实现[J].福建电脑,2009,25(3):11-12. 被引量：1
8高健,周求湛,戴宏亮,刘超,吴丹娥,刘萍萍,于莉莉.基于LabVIEW的多晶硅太阳能电池噪声精确测试方法[J].东北师大学报（自然科学版）,2011,43(3):76-79.
9STV0900：双解调器芯片[J].世界电子元器件,2007(4):86-86.
10蔡竟业,王文钦,杨远望.微波、毫米波相位噪声测试系统的研制[J].测试技术学报,2006,20(2):113-117.

电子质量

2010年第6期

浏览历史

内容加载中请稍等...