CNS—I型抽屉锁耐用度测试仪原理及结构分析

本文就CNS-I型抽屉锁耐用度测试仪的原理及结构特点进行了较为详尽的分析，并通过分析导出了该仪器关于性能特点方面的基本结论。本文主要分为五部分：第一部分是前言，它叙述了该测试仪课题的来源和测试仪的用途特点并提出本文论述的中心；第二部分重洒笔墨分析了几种典型的换向机构，并提出了本测试仪应实现的运动。该部分的分析较为透彻，它为本测试仪原理的选择提供可靠的理论基础；第三部分在对所选定的该测试仪的工作原理进行详细描述的同时，对所采用的各机构组合的方式及合理性进行分析；第四部分对本测试仪采用的原理作具体的数学上的分析，使本文所述论点更加坚实可信；第五部分通过前几部分的分析描述，导出了CNS—I抽屉锁耐用度测试仪原理先进、结构合理及整机性能较为优越这一结论。