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双路激光扫描尺寸检测系统
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摘要
双路激光扫描尺寸检测仪采用非接触式测量方法进行零件的尺寸与形位公差检测,解决了激光测量中普遍存在的测量尺寸范围小、工作表面易磨损等技术难点。测量分辨率达到亚微米数量级,同时具有广泛应用价值。
作者
王弘钰
别红霞
徐兵
机构地区
长春邮电学院
长春科技大学
长春第五十五研究所
出处
《长春科技大学学报》
CSCD
1999年第1期101-103,共3页
Journal of Changchun University of Science and Technology
关键词
激光
尺寸检测
光学系统
双路激光扫描
分类号
TH744.5 [机械工程—光学工程]
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长春科技大学学报
1999年 第1期
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