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广晟微电子选用LTXCX实现TD射频芯片数字化测试方案
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摘要
近日,广晟微电子有限公司(RME)携手LTXCrederlce有限公司在LTXC的X系列自动测试平台上成功地将新一代TD-SCDMA数字射频收发芯片RS2012投入量产。此测试方案是世界上首款TDSCDMA数字射频芯片测试方案,也是对TD—SCDMA芯片产品量产测试领域的一个历史性的飞跃。
出处
《中国信息化》
2010年第13期76-76,共1页
关键词
TD-SCDMA
测试方案
射频芯片
微电子
数字化
TDSCDMA
射频收发芯片
自动测试平台
分类号
TN929.533 [电子电信—通信与信息系统]
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