摘要
近年来Ｘ射线荧光光谱分析有了长足的进步，特别在数据处理以及其关键部件，如Ｘ射线管、晶体等方面．分析检出限已达ｎｇ级，成为现代分析技术的一种重要手段．
The development of X-ray fluoasocncc spotroscopy in various aspects induding new software, instrumentation has the reviewh with emphasis on X-ray tube, cantals etc, nanogrdm level trace elements analysis are possible.
出处
《冶金分析》
CAS
CSCD
北大核心
1999年第1期32-36,共5页
Metallurgical Analysis
关键词
X射线
XRF
光谱仪器
光谱分析
Limit of detection, Syncbotron X-ray fluorescence spectroscopy, Total reflectiion X-ray fluorescence spectroscopy,Layered synthetic microstructrue
