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自动扫描测试技术及其在半导体器件测试中的应用 被引量:1

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摘要 以CD-ROM半导体激光器为例,介绍了半导体器件测试的计算机自动扫描技术及其接口电路。这种技术方便、快捷、准确,不需要对器件进行制冷和温度控制即可得到特性曲线与温度变化的关系。
机构地区 华中理工大学
出处 《电测与仪表》 北大核心 1999年第2期23-24,11,共3页 Electrical Measurement & Instrumentation
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参考文献1

  • 1董天监.光纤通信原理和新技术[M].武汉:华中理工大学出版社,1998..

同被引文献2

引证文献1

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