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DATE ’98反映了设计和测试观念的改变
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摘要
从在巴黎召开的DATE’98会议可以看出,电子工业界的设计观念正从电路级设计向系统级设计转移,测试设计正从可测性设计向内置自测试转移。
作者
魏波
李仕学
出处
《国外电子测量技术》
1999年第1期2-2,共1页
Foreign Electronic Measurement Technology
关键词
可测试性
测试设计
内置自测试
电子系统
分类号
TM930 [电气工程—电力电子与电力传动]
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国外电子测量技术
1999年 第1期
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