缩短电子设备寿命试验时间的灰色理论与方法探讨

采用灰色系统理论中的ＧＭ（１，１）模型对电子设备失效寿命试验数据进行数值拟合和预测，可缩短试验时间，节约试验费用。实例表明，灰色系统理论与方法应用于电子设备失效寿命试验数据处理中是可行的，有较高的预测精度。