点滴纸上薄样X射线荧光光谱法制样条件的研究

作为薄样技术之一的点滴纸上薄样X射线荧光光谱法,早在六十年代Johnson等就试验用以进行不同基体金属样品的分析。70年代中期,Chung对薄样的试样厚度和基体影响的关系进行了推导。以后,Tertian等对此进行了进一步的阐述和论证。他们都提出了能忽视基体效应的薄样判据。为了减少制样误差,文献对制样方法也作过研究报道。由于点滴法制样较方便。