全颌曲面断层片诊断下颌偏斜价值

目的:研究下颌偏斜患者X线全颌曲面断层片和头颅后前位定位片下颌骨线距测量项目的相关性,探讨全颌曲面断层片定量分析评价下颌偏斜的应用价值。方法:50例下颌偏斜患者治疗前同期拍摄全颌曲面断层片和头颅后前位定位片,分别测量左右侧下颌骨升支高度、下颌体长度、下颌综合长度,并对测量结果进行统计分析。结果:下颌骨升支高度、下颌体长度及下颌综合长度在X线全颌曲面断层片和头颅后前位定位片上测量值之间均有明显相关性。结论:全颌曲面断层片可用于下颌骨线距测量,诊断下颌偏斜。