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基于FPGA的半导体分立器件分选机控制系统计

Design of the IC Selecting Machine Control System Based on FPGA
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摘要 介绍了批量生产流程中半导体分立元件测试系统的结构组成,以及半导体分立元件分选机的基本工作方式,在此基础之上研究并设计了接口信号可随意设定的分选机控制系统。该系统具有较强的适用性,可以应用于各种不同种类的半导体分立元件分选机;同时该系统还具有一定的功能扩展性。实验表明该分选机控制系统可以适用于不同类型分选机,通信质量有效可靠,达到预期设计目的。 This paper introduces the basic composition of semiconductor componet testing system for mass production,and the function of the semiconductor componet selecting machine.The author use hardware description language to programme this control system on the base of mastering the selecting machine's function.This system is flexible and extensible so that it can be adapted to many kinds of selecting machines.
出处 《电子质量》 2010年第8期18-20,共3页 Electronics Quality
关键词 半导体分立元件测试 半导体分立元件分选机 现场可编程逻辑阵列 VERILOG硬件描述语言 Integrate circuit testing IC selecting machine FPGA Verilog HDL
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