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泛华测控赴美参展助力NIWeek
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摘要
NIWeek于美国当地时间8月3日在德州的奥斯汀市盛大开幕。泛华测控参加此次盛会,并展示其基于NI虚拟仪器技术应用的部分解决方案及产品,展品主要为LECT-1101、PXI一体化机箱和VAS—HJ专用振动测试分析仪。
出处
《电子质量》
2010年第8期59-59,共1页
Electronics Quality
关键词
测控
振动测试分析仪
虚拟仪器技术
VAS
一体化
PXI
机箱
分类号
TP216 [自动化与计算机技术—检测技术与自动化装置]
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电子质量
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