基于FPGA的ADC指标测量及测试系统

本文由提出混合信号集成电路中ADC部分的指标测量测试问题开始,提出了一种基于可编程逻辑门电路的测试系统解决方案,并给出了系统框图。介绍了测试系统各部分的组成,然后又列举了ADC的各项重要的动态和静态指标,最后给出了计算各指标的具体算法。