高精度高速阻抗分析仪

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摘要 IM3570阻抗分析仪测量频率范围为4Hz-5MHz，同日置LCR测试仪353250类似，但功能更为强大。该产品特别加强了频率的扫描测量、高速测量、低ESRN量、DCR的连续测量和测量稳定性。其低阻抗的操作反复精度比以往产品提高了一位，所以比较适合测量mΩ级别、低ESR功能性高分子电容。其最快测量时间为0．5mS（100kHZ，FAST，显示OFF时），

出处《今日电子》 2010年第9期68-68,共1页 Electronic Products

关键词阻抗分析仪高精度功能性高分子 LCR测试仪扫描测量频率范围测量稳定性高速测量

分类号 TM503.5 [电气工程—电器]

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